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点击次数：428 发布时间：2022/11/8 15:04:08
庆祝中国电子科技集团公司第二十二研究所从我司订购晶振测试仪一台
118A晶振测试仪
1．概述
CX-118A型晶振测试仪使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等测量。它测量高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1～Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。
2．118A晶振测试仪主要特征
2．1 本机采用倒数计数技术，测量高，测量范围宽，真正实现等测量，测量速度快，灵敏度高。
2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。
2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均无故障工作时间≥10000h。
整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。
3．118A晶振测试仪技术参数
3.1 测量范围
频率测量：A通道:1Hz～100MHz；
B通道:100MHz～1.6GHz(选件)
周期测量：A通道:10ns～1s
PPM测量：-9999～9999ppm
上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。
分档测量：根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。 分档值：Pr1～Pr8可在1～999ppm之间任意设置
分档档数：以中心频率F0为中点左右分成16档
累加计数：计数容量：0～109－1 (选件)
计数方式：键控、门控或外门控可选。
3.2 输入特性
输入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF
B通道: 50Ω
3.2.2 输入耦合方式：AC
3.2.3 波形适应性：正弦波、脉冲波
输入电压动态范围:
A通道：30mVrms～250Vp～p
B通道: 30mVrms～1Vrms
3.2.5 A通道低通滤波器：－3dB 带宽约100kHz
3.2.6 A通道衰减：×1或×20
3.3 测量误差
3.3.1 频率或周期测量误差：±时基误差±触发误差±LSD
100ns
其中：LSD＝─────×被测频率（或被测周期）
闸门时间
触发误差：当被测信号的信噪比为40dB时，触发误差≤0.3%
PPM测量误差：±时基误差±触发误差±LSD
其中：LSD＝(100ns/闸门时间)×106ppm
例如：闸门时间=1s时 LSD＝0.1ppm
闸门时间=0.1s时 LSD＝1ppm
3.3.3 计数误差：±1
3.4闸门时间
固定闸门：10ms、100ms、1s、10s 四档可选；
可调闸门：50ms～95ms 分10档，每档间隔5ms。
3.5 晶体振荡器
标称频率：10MHz
频率稳定度：5×10-6/d
（可根据用户需求，选配更高量的晶振。
如：1×10-6/d、5×10-7/d、1×10-7/d等）。
3.6 外频标输入
输入频率：10MHz
输入幅度：>1Vp～p 正弦波
3.7 显示
13位0.4吋绿色高亮数码管，三个单位LED指示灯（MHz、kHz、Hz），一个闸门LED指示灯(GATE)，一个外频标LED指示灯(EXT)和一个PPM单位指示灯（PPM）。
3.8 电源
电压：交流220V±10%
频率：50Hz±5%
功耗：<8VA
3.9 外形尺寸：230×250×90(mm)
3.10 质量：<1.5kg
晶振测试仪实物图片
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